X射線粉末衍射儀測試

樣例

適用領域

    1.材料晶體大小的測定期模擬計算。     2.半導體基底上薄膜生長的納米材料分析。     3.納米材料中的物相定性分析。     4.納米氧化鋅陶瓷的參雜制備及物相分析、結構表征、性能和結構分析等。     5.單相和多相的全譜擬合計算和結構精修

面向學科

該儀器在化學、物理、材料、生物及礦物學等學科均有廣泛應用。

樣品要求

可接收粉末、塊體和薄膜測試，具體要求如下： 1) 粉末：過200目篩，樣品量不少于0.5g；極少量樣品可選無背景樣品臺； 2) 塊體：被測面平整且盡量光滑，確保樣品能裝入φ25mm×3mm的樣品槽，若樣品尺寸更大，具請咨詢我們； 3) 薄膜：若采用反射模式，尺寸要求同塊體；若選用透射模式，要求樣品有一定的柔韌性，具請咨詢我們； 4) 液體及膠體樣品：無法檢測；

收費標準

    1) 廣角X射線衍射（5°-90°）：         掃描速度10°/Min: 50元/樣         掃描速度5°/Min：70元/樣         掃描速度2°/Min：100元/樣         掃描速度1°/Min：200元/樣 2) 小角X射線衍射（0.5°-5°）：         掃描速度1°/Min：100元/樣         掃描速度0.5°/Min：150元/樣 3) XRD鈷靶         15Min：200元/樣         30Min：400元/樣         1H ：600元/樣

測試儀器

    儀器名稱：X射線粉末衍射儀     儀器型號：D8 ADVANCE     儀器廠家：BRUKER     基于獨一無二的D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）,對分布函數（PDF）分析,小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS） 布魯克獨家提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前，在峰位、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8 ADVANCE。 該設備可以利用X射線衍射判斷粉末晶體樣品的晶體類型及微觀結構特點，配備變溫樣品臺，可進行低高溫樣品測量

儀器參數

    1) Cu靶，Mo靶     2) TTK600 中低溫原位分析附件（-196-600℃）     3) LYNXEYE XE-T（能量分辨率優于 380eV）     4) 全譜范圍內所有峰的角度偏差不超過±0.01 度     5) 掃描方式：立式/（Eiger2 R 500K二維陣列探測器）：零維模式（點探測器），一維模式（陣列探測器），二維模式（面探測器）     6) 可讀最小步長0.0001度；2θ測量范圍-110～168度。     7) 入射三光路系統（聚焦光路，平行光路及高分辨平行光路）     8) 樣品臺 五軸尤拉環樣品臺，九位自動進樣器，毛細管樣品臺