透射電子顯微鏡(TEM)
應用范圍
1) 形貌觀察：TEM觀察范圍內的樣品 2) 高分辨像：如多相催化中小顆粒分析；晶體缺陷、晶界、相界；非晶薄膜上的納米晶 3) 電子衍射：如確定晶體的點陣結構、測定點陣常數、晶體缺陷（位錯、層錯、空位等） 4) 衍射襯度成像（明場像、暗場像） 5) X射線能譜分析，元素定點分析
收費標準
1) 全部測試方法 :750元/小時; 2) 只拍攝普通形貌 :300元/樣; 3) 拍攝高分辨或選區電子衍射 :100元/樣; 4) 能譜分析 :100元/樣; 5) 現場測試：費用翻倍
儀器信息
儀器名稱: 透射電子顯微鏡(TEM)
儀器品牌: JEOL
儀器型號: JEM-2100
功能參數
1) 成像模式：TEM 2) 加速電壓：30,60,120,200kV 3) 球差系數：1.0mm 4) 點分辨率：0.23nm 5) 晶格分辨率：0.14nm 6) 電子槍：LaB6 7) 傾斜角：±35/30° 8) 放大倍數：×2000~1500 000
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