球差校正透射顯微鏡(可現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試)
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- 品牌： JEOL
- 型號(hào)： JEOL JEM-ARM200F
- 商品庫(kù)存： 有現(xiàn)貨
標(biāo)簽
易科研自營(yíng)
球差透射電子顯微鏡(Cs-corrected TEM)
球差透射電子顯微鏡(Cs-corrected TEM)
應(yīng)用范圍
可以對(duì)各種無(wú)機(jī)材料做原子分辨率晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)、微區(qū)成分分析。
收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)
1) 靜態(tài)分析 3000元/小時(shí); 2) 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試：加收1000元/小時(shí);
儀器信息
儀器名稱(chēng): 球差校正透射顯微鏡(Cs-corrected TEM)
儀器品牌: JEOL
儀器型號(hào): JEM-ARM200F
功能參數(shù)
1.成像模式：STEM,HAADF, MAADF, BF, ABF, TEM 2.加速電壓：200, 120, 80KV 3.熱場(chǎng)發(fā)射電子槍 4.束斑像差矯正器 5.STEM點(diǎn)分辨率0.08nm 6.100mm2SDD能譜 7.GIF Quantum ER能量過(guò)濾系統(tǒng)
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