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原位球差環(huán)境透射電子顯微鏡(可現(xiàn)場測試)

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原位球差校正環(huán)境透射電子顯微鏡(Cs-corrected TEM)

應(yīng)用范圍

1.能源、催化材料高分辨電子顯微結(jié)構(gòu)分析 2.反應(yīng)條件下，材料原子結(jié)構(gòu)原位動態(tài)觀測

收費標(biāo)準(zhǔn)

1) 靜態(tài)分析：   3000元/小時; 2) 原位測試(不含芯片)： 3000元/小時; 3) 現(xiàn)場測試：加收50%;

儀器信息

儀器名稱: 原位球差校正環(huán)境透射電子顯微鏡(Cs-corrected TEM) 儀器品牌: FEI 儀器型號: Titan Themis ETEM G3

功能參數(shù)

1.X-FEG高亮度熱場發(fā)射電子槍 2.加速電壓：80kV，200kV，300kV 3.標(biāo)準(zhǔn)分辨率STEM <0.136 nm, TEM<0.1nm；環(huán)境模式分辨率（<0.5mbar氣氛）：STEM<0.12nm，TEM<0.12nm 4.壓差物鏡設(shè)計實現(xiàn)10-3-2000Pa氣氛環(huán)境的直接加載；適用氣氛：Air、N2、CO、CO2、H2、N2O、O2、H2O等一種或多種氣氛且比例可調(diào)混氣。 5.內(nèi)置反應(yīng)氣體分析(RGA，質(zhì)譜儀檢測) 6.NanoEx-i/v樣品臺，最高加熱1000oC 7.GatanOne view高速相機(jī) 8.GIF Quantum ER能量過濾系統(tǒng)，＜0.1eV分辨率


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