原位場發射環境掃描電鏡(SEM)
應用范圍
1.多種樣品（包括導電樣品、不導電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等）的表面形貌、成分分析 2.加熱條件下材料演化過程動態表征。
收費標準
1) 環掃，低溫，加熱：1200元/小時; 2) 現場測試：費用翻倍
儀器信息
儀器名稱: 原位場發射環境掃描電鏡(SEM)
儀器品牌: FEI
儀器型號: Quanta 650 FEG
功能參數
1.分辨率： 二次電子: 高真空模式1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV 高真空減速模式2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項) 低真空模式1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV 環境真空模式1.4nm @ 30kV 背散射電子: 高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV 掃描透射STEM探測器: 0.8nm @ 30kV 2.加速電壓：200V～30kV,連續可調 3.配備制冷、加熱原位樣品臺，溫度范圍-165℃到1400℃
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