原位雙球差校正透射電鏡測(cè)試

測(cè)試樣例

面向?qū)W科

化學(xué)、材料等相關(guān)學(xué)科

樣品要求

1)    磁性樣品指：Fe，Co，Ni元素或者磁鐵可以有響應(yīng)的材料 2)    低熔點(diǎn)、易分解、磁性、毒性、放射性的樣品不可測(cè) 3)    載網(wǎng)：粉末樣品需要使用進(jìn)口超薄碳膜、進(jìn)口超薄微柵、進(jìn)口超薄金膜（含銅的樣品，且需要做EDS或EELS測(cè)試）、國(guó)產(chǎn)標(biāo)記微柵（需要檢測(cè)特定的顆粒）。 4)    樣品分散：用戶(hù)需要把樣品研磨后，滴到載網(wǎng)上，研磨方法是加入酒精后，在研缽中濕磨，研磨分散效果比超聲分散效果要好一些，要想分散得好，可以適當(dāng)延長(zhǎng)研磨時(shí)間。 5)    制樣濃度：特別強(qiáng)調(diào)，樣品制樣濃度要高一些，以在載網(wǎng)周?chē)芸吹揭蝗诘模ㄈ绻麡悠肥呛诘模悠窞橐恕? 6)    樣品烘干：測(cè)試之前，需要在加熱板、紅外燈或烘箱中干燥，溫度設(shè)定根據(jù)樣品不同而不同，一般為100度左右就可以，石墨烯樣品可以設(shè)到180度，烘烤時(shí)間1個(gè)小時(shí)以上。 7)    其它樣品制樣：用戶(hù)可以使用FIB、電解雙噴、手工等方法制備樣品。     特別提醒：因球差電鏡特殊要求，所有球差電鏡樣品均需在普通透射電鏡上檢測(cè)不積碳后方可測(cè)試。

測(cè)試項(xiàng)目

1). 真空中加熱 2). 氣體中加熱 3). 氣體加電子束 4). 液體中觀測(cè) 5). 冷凍電鏡觀測(cè) 6). 電鏡觀測(cè)電池反應(yīng) 7). 真空中加電觀測(cè) 8). 氣體中加電觀測(cè)金屬空氣電池 9). 氣體中催化反應(yīng)觀測(cè)

收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)

1)    20000元起/樣，原位樣品桿芯片費(fèi)用另計(jì)，首測(cè)9折優(yōu)惠

測(cè)試儀器

    儀器名稱(chēng): 原位環(huán)境雙球差校正透射電鏡     儀器型號(hào): FEI Titan ETEM     關(guān)  鍵  字: 球差、透射、電鏡、HADDF、STEM、色差矯正，Quantum EELS, Super-X EDS Titan G2 60-300以其卓越的產(chǎn)品設(shè)計(jì)和已獲證明的具有突破性的性能和結(jié)果成為全球各地杰出研究人員的首選掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。 使用了FEI Titan S/TEM 系列包括全球功能最強(qiáng)大的商用 S/TEM之一,使用革命性的 60-300 kV 電子鏡筒，通過(guò) TEM 和 STEM 模式在各種材料和工作條件下進(jìn)行亞原子級(jí)的探索和研究。

技術(shù)參數(shù)

1)    場(chǎng)發(fā)射超亮電子槍?zhuān)?00KV，色差矯正，Quantum EELS, Super-X EDS 2)    電子槍能量分辨率:0.2 - 0.8 eV（300kV） 3)    TEM分辨率：小于80 pm 4)    STEM分辨率：：小于80 pm 5)    信息分辨極限：小于80 pm 6)    樣品臺(tái)：最大樣品傾角 ±40° 7)    原子級(jí)別元素分析