合金高分辨場發射透射電鏡(TEM)
適用領域
該儀器可完成材料組織形態、晶體結構、化學成分、界面結構,表面和缺陷等方面的測試與分析，應用于材料微觀結構的觀察和分析：形貌像分析；電子衍射圖像分析；HRTEM 高分辨像；掃描透射（STEM）分析；EDX能譜分析
面向學科
可廣泛應用于生物學、醫學、化學、物理學、地質學， 金屬、半導體材料、高分子材料、陶瓷、納米材料
樣品要求
如果需要雙噴電解制樣，需客戶自行磨樣至30-50微米厚度否則沒有薄區，測試老師不負責磨樣；如果馬氏體等硬相需要40微米以下，至少 3mm直徑圓面積；由于電解雙噴制樣不能保證一次性成功，建議每個樣品提供3-5塊備用。
收費標準
1) 形貌：600元/樣； 2) 高分辨形貌(HRTEM)：800元/樣； 3) 點掃：+200元/樣； 4) 線掃：+200元/樣； 5) 能譜(EDS)：+200元/樣； 6) 衍射：+200元/點/樣； 7) Mapping只需要1個位置1000元/樣；2個位置1500元/樣 8) 雙噴電解制樣：200 注：形貌10張；形貌+高分辨15張
測試儀器
儀器名稱：合金高分辨場發射透射電鏡(TEM)
儀器型號：FEI TECNAI G2 F20
儀器廠家：美國 FEI公司
關 鍵 字：TEM、高分辨場發射透射電子顯微鏡、TEM、HTEM、HRTEM、EDS、鋼鐵TEM
儀器簡要：該儀器配備了STEM, EDX, CCD, HAADF等多種附件，能獲取TEM明場、暗場像高分辨像和選區電子衍射，能進行EDX能譜分析和高分辨STEM原子序數像的分析，STEM結合EDX點、線、面掃描的可以進行微區能譜分析，利用三維重構軟件進行樣品的三維重構和分析。
儀器參數
1) 加速電壓：200KV 2) 放大倍數：25K-1030K 3) 點分辨率：0.24nm 4) 線分辨率：0.102nm 5) 信息分辨率：0.14nm 6) 樣品傾斜角度:< ±30° 7) 相機常數: 30-4500 mm 8) 電子槍：肖特基熱場發射電子槍
