掃描電子顯微鏡(搭載EBSD探頭)測試
測試樣例
1) 樣例1
2) 樣例1
適用領域
金屬、合金材料
面向學科
材料、機械等相關學科
樣品要求
1、可以直接做EBSD數據采集的樣品的基本要求：樣品能產生計算機可以識別且能正確標定的菊池衍射花樣、表面平整、清潔、無殘余應力、導電性良好、尺寸合適，數據采集處理需提供樣品中各相的物相以及晶體結構及原子占位信息，元素種類等，以及晶體學信息：晶體學數據庫，ICCD，或者皮爾斯手冊，再就是XRD標定用的PDF卡片里面。若不符合直接測試要求，需要選擇合適的制樣方法。 2、 樣品尺寸要求：形狀規整，尺寸不宜太大，長寬不超過10mm，厚度不超過5mm，測試面需要表面光滑，沒有明顯劃痕。其他特殊需求請聯系； 3、 樣品的制備條件參考：金屬樣品：機械拋光+化學侵蝕（硬度較高、原子序數大）；機械拋光+電解拋光（純金屬/第二相細小的合金）； 金屬基復合材料：同上或者氬離子拋光（拋光區域較小，一般800*800微米左右） 陶瓷樣品：機械拋光、 氬離子拋光 4、測試面需要標記清楚，如需要特殊區域定位，請附上SEM圖片或者光學圖片給出具體定位信息； 5、寄送樣品請固定好樣品，測試面不要觸碰到任何表面，避免表面劃傷;
收費標準
1) 振動拋光制樣 500元/樣； 硅溶膠機械拋光制樣 800元/樣 ； 氬離子拋光制樣：1000元/樣； 2) 標準測試 700元/視圖（一般采集時間半小時內，超時后根據具體情況收取費用），每個視圖指一個區域一個倍數下，如果一個區域需要多個倍數，則為多個視圖，視圖大小一般為微米級，區域越大，采集時間越長，最大區域一般不超過1mm，如采集時間、步長等有要求，請提前聯系項目經理
測試儀器
儀器名稱:掃描電子顯微鏡（搭載EBSD探頭） 儀器型號:FEI Nova Nano SEM/ 蔡司Sigma 500/ 蔡司 dual beam FESEM（搭載EBSD探頭和原位拉伸臺） 關鍵字:EBSD、取向、晶粒、織構、極圖、物相分析
