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形貌尺寸

冷場發射掃描電子顯微鏡測試(S4800)選項
熱場發射掃描電子顯微鏡分析選項
原子力顯微鏡測試選項
小角X射線散射分析選項
納米粒度及Zeta電位分析選項
掃描電子顯微鏡(搭載EBSD探頭)
球差校正透射電鏡
原子力顯微鏡測試(AFM)
蔡司MERLIN Compact超高分辨場發射掃描電鏡

更多分類

合金高分辨場發射透射電鏡(TEM)
FEI TECNAI G2 F20

¥600.00

蔡司超高分辨場發射掃描電鏡
蔡司MERLIN Compact

¥150.00

冷凍電鏡(Cryo-EM)
FEI Titan Krios

¥30,000.00

納米粒度及Zeta電位分析
EKYS-130

¥120.00

球差校正透射電鏡測試(磁性)—自營
日本電子JEM-ARM200F

¥3,500.00

全自動壓汞儀(MIP)
AutoPore IV 9510

¥800.00

熱場發射高分辨掃描電鏡(SEM)
德國蔡司SUPRA55

¥150.00

原位雙球差校正透射電鏡
FEI Titan ETEM

¥20,000.00

原子力顯微鏡測試(AFM)
Dimension Icon

¥300.00

植物亞細胞定位
EKYS-256

¥3,000.00

自動磨拋機測試
EKYS-250

¥200.00